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Bienvenue dans la collection HAL du groupe DSF : Diélectriques Solides et Fiabilité
Les activités de l’équipe concernent en premier lieu la fiabilité des systèmes isolés. Les travaux ont pour objectif la compréhension des mécanismes de génération et de transport de charges dans les isolants, ainsi que l’identification des processus conduisant au vieillissement et à la rupture de matériaux compte tenu des contraintes fonctionnelles rencontrées dans les dispositifs. Pour cela, des techniques de caractérisation originales sont mises en œuvre et l’on s’appuie sur une simulation numérique des phénomènes de transport. Pour plus d'informations sur nos recherches.
Types de documents publiés
Sujets
AFM
Electrodes
Bipolar charge transport model
SiO2
Electrical ageing
Transport
DC stress
PEA
Conductivity
Atomic force microscopy
Electric potential
Cable
HVDC
Polymeric insulation
Polymer
Optimization
Conduction current
Dielectric films
Polymers
Pulsed electro acoustic method
Electromechanical stress
Ac electric field
Thin films
Current measurement
Polarization
Charge measurement
Power cables
Cross-linked polyethylene
Thermal aging
HVDC cable
Electrical engineering
Electric field distribution
Polyimide
Silver
Dielectrics
FLIMM
LDPE
KPFM
Permittivity
Polyethylene
Dielectric materials
Electrical conductivity
Cross-linking by-products
Insulation
Insulating polymers
Electrical properties
XLPE
Dielectric material
AgNPs
Electrical insulation
Ageing
Interfacial charge
Electron-beam irradiation
Nanostructured dielectrics
Breakdown
Dielectric
Polypropylene
Modeling
Plasma process
LIMM
Cathodoluminescence
Epoxy resin
Charge injection
Electric field
FTIR
PTFE
Electroluminescence
Space charge
Silver nanoparticles
Charge transport
E-Beam
Field distribution
Luminescence
Proteins
Cumyl alcohol
Aluminum oxide
Plasma processes
Charge d'espace
Partial discharges
Rotating machines
Dielectric strength
C-AFM
EFM
Doping
Accumulation characteristics
Mechanical properties
Dielectric properties
BSA
Electron beam
Polarity reversal
Electron beams
Charge transport model
Charge trapping
Radiation effects
Fluid model
Silicon compounds
DC conductivity
Dielectric charging
Electrostatics
Acoustic wave propagation
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